其他產(chǎn)品及廠家
uat-ec5000是業(yè)界針對(duì)usb3.0接收端受壓眼圖的智能校準(zhǔn)平臺(tái)，融合動(dòng)態(tài)基線補(bǔ)償、本底抖動(dòng)剝離、眼圖傾斜校正三大專利技術(shù)。系統(tǒng)通過(guò)ai驅(qū)動(dòng)的高精度信號(hào)重構(gòu)，在極端壓力下仍可保證眼高測(cè)量誤差<±1％，為汽車電子/工業(yè)級(jí)應(yīng)用提供可靠測(cè)試基準(zhǔn)。
更新時(shí)間:2026-01-12
uat-8000是阿儀網(wǎng)推出的專業(yè)級(jí)usb3.0/3.1/3.2信號(hào)完整性測(cè)試平臺(tái)。系統(tǒng)集成了高性能示波器硬件與自動(dòng)化分析軟件，專為測(cè)量眼高、抖動(dòng)、時(shí)序等關(guān)鍵參數(shù)而優(yōu)化，提供從自動(dòng)化合規(guī)性測(cè)試到深度信號(hào)診斷的一站式解決方案，大幅提升研發(fā)驗(yàn)證與認(rèn)證測(cè)試效率。
更新時(shí)間:2026-01-12
mipi傳輸過(guò)程中的信號(hào)質(zhì)量問(wèn)題mipi是2003年由arm，nokia，st，it等公司成立的個(gè)聯(lián)盟，旨在把手機(jī)內(nèi)部的接口如存儲(chǔ)接口，顯示接口，射頻/基帶接口等標(biāo)準(zhǔn)化，減少兼容性問(wèn)題并簡(jiǎn)化設(shè)計(jì)。
更新時(shí)間:2026-01-12
mipi接口屏閃屏的分析及解決方法 眼圖測(cè)試基于示波器的當(dāng)抖動(dòng)測(cè)量工具在條通道上只提供個(gè)眼圖。在通用測(cè)量中，這些工具只有6-8個(gè)測(cè)量項(xiàng)目。dpojet全面支持所有通道，包括同時(shí)測(cè)量每條通道的眼圖。
更新時(shí)間:2026-01-12
mipi接口屏閃屏的分析及解決方法 眼圖測(cè)試 mipi傳輸過(guò)程中的信號(hào)質(zhì)量問(wèn)題 mipi驅(qū)動(dòng)問(wèn)題 重起問(wèn)題
更新時(shí)間:2026-01-12
硬件工程師調(diào)試mipi屏經(jīng)驗(yàn) mipi 接口的sensor問(wèn)題 mipi接口的dsi的驅(qū)動(dòng)問(wèn)題
更新時(shí)間:2026-01-12
mipi lcd接口 mipi主板 mipi故障分析與解決 mipi調(diào)試經(jīng)驗(yàn) mipi硬件開(kāi)發(fā) mipi驅(qū)動(dòng)
更新時(shí)間:2026-01-12
mipi調(diào)試經(jīng)驗(yàn) mipi硬件開(kāi)發(fā) mipi驅(qū)動(dòng) 硬件工程師調(diào)試mipi屏經(jīng)驗(yàn)
更新時(shí)間:2026-01-12
mipi調(diào)試經(jīng)驗(yàn) mipi硬件開(kāi)發(fā) mipi驅(qū)動(dòng) 硬件工程師調(diào)試mipi屏經(jīng)驗(yàn) mipi 接口的sensor問(wèn)題
更新時(shí)間:2026-01-12
mipi攝像頭 mipi眼圖測(cè)試 mipi lcd接口 mipi主板 mipi故障分析與解決從軟件層面，再回顧下數(shù)據(jù)格式，加深在數(shù)據(jù)線上有3 種可能的操作模式：escape mode, high-speed (burst) mode and control mode，下面是從停止?fàn)顟B(tài)進(jìn)入相應(yīng)模式需要的時(shí)序：
更新時(shí)間:2026-01-12
ats-msi 4000是阿儀網(wǎng)針對(duì)lpddr4及高速存儲(chǔ)器芯片推出的專業(yè)級(jí)信號(hào)完整性測(cè)試平臺(tái)。系統(tǒng)深度融合高精度眼圖分析、皮秒級(jí)時(shí)序測(cè)量與深度抖動(dòng)分解功能，提供從研發(fā)調(diào)試、預(yù)合規(guī)驗(yàn)證到失效分析的完整解決方案。其應(yīng)對(duì)低電壓、高速度的優(yōu)化設(shè)計(jì)，特別適合移動(dòng)設(shè)備、汽車電子等領(lǐng)域?qū)Υ鎯?chǔ)器接口的嚴(yán)苛驗(yàn)證需求。
更新時(shí)間:2026-01-12
lpdvt-4000是阿儀網(wǎng)專為lpddr4國(guó)產(chǎn)化替代設(shè)計(jì)的性能驗(yàn)證平臺(tái)，支持4266mbps高速測(cè)試，提供從基礎(chǔ)功能到可靠性的全流程驗(yàn)證方案，重點(diǎn)解決低電壓、高速度帶來(lái)的測(cè)試挑戰(zhàn)。
更新時(shí)間:2026-01-12
解決mipi屏黑屏問(wèn)題 mipi調(diào)試過(guò)程 mipi接口屏閃屏的測(cè)試 分析與解決方法依據(jù)ccir編碼表，sav和evav之間的保護(hù)數(shù)據(jù)是被編碼過(guò)的，使用這種方法，編碼器可以糾正1-bit錯(cuò)誤，可以檢查2-bit的錯(cuò)誤。該特征只是在csi的ccir編碼中，僅僅是奇偶交錯(cuò)模式中支持。
更新時(shí)間:2026-01-12
分析與解決方法 mipi c-phy d-phy 眼圖測(cè)試當(dāng)幀結(jié)束或者是個(gè)在rxfifo中的完整的幀數(shù)據(jù)被全部讀出時(shí)，eof中斷就產(chǎn)生了，eof并不在csi的prp模式中使用。該中斷是用在ccir奇偶域交錯(cuò)的模式下使用，該中斷當(dāng)field 1 和field 2交錯(cuò)的時(shí)候產(chǎn)生。f1_int和f2_int會(huì)產(chǎn)生
更新時(shí)間:2026-01-12
解決mipi屏黑屏問(wèn)題 mipi調(diào)試過(guò)程 mipi接口屏閃屏的測(cè)試bayer數(shù)據(jù)是個(gè)從圖像傳感器獲得典型的行數(shù)據(jù)。該數(shù)據(jù)寬度定要通過(guò)軟件轉(zhuǎn)化為rgb空間或者是yuv空間的數(shù)據(jù)格式。pack_dir bit設(shè)置為0，表示系統(tǒng)是小端，不是大端系統(tǒng)。使用p0,p1,p2,p3存放了打包了的數(shù)據(jù)內(nèi)容，p0是個(gè)data,依次，p3是個(gè)data.
更新時(shí)間:2026-01-12
mipi clk眼圖 data眼圖測(cè)試與分析 解決mipi屏黑屏問(wèn)題mx27提供了個(gè)非常業(yè)的攝像頭csi接口，可以配置相關(guān)的口進(jìn)行接口匹配。我們的攝像頭是ov9660，輸出設(shè)定為yuv模式，因此，csi獲取的數(shù)據(jù)也是yuv格式的數(shù)據(jù)，因此還需要通過(guò)軟件，將yuv的格式轉(zhuǎn)化為rgb565、rgb656、rgb888格式放到lcdc對(duì)應(yīng)的memory進(jìn)行顯示輸出。
更新時(shí)間:2026-01-12
mipi c-phy d-phy 眼圖測(cè)試 mipi屏 初始化指令問(wèn)題像素可以放映到你的抓圖上面的大小，該像素就是說(shuō)明你的cmos或者是ccd感光元件的像素點(diǎn)多少，可以想象在相同的面積上，數(shù)量越多，感光元件肯定要越小，感光元件小，那么圖像的質(zhì)量其實(shí)會(huì)變差，這個(gè)當(dāng)然可以理解，但是從大的方面來(lái)說(shuō)，只要鏡頭好，光源充足，那么效果也會(huì)變好，這樣畫(huà)面就比像素低的更加的細(xì)膩，所以高像素的好處就在這里。
更新時(shí)間:2026-01-12
mipi眼圖 數(shù)據(jù) clk眼圖 data眼圖測(cè)試與分析 解決mipi屏黑屏問(wèn)題 mipi調(diào)試過(guò)程mx27提供了個(gè)非常業(yè)的攝像頭csi接口，可以配置相關(guān)的口進(jìn)行接口匹配。
更新時(shí)間:2026-01-12
sf6 綜合測(cè)試儀是集 sf6濕度、sf6純度、sf6 分解產(chǎn)物測(cè)試于一體，將原來(lái)要用三臺(tái)儀器才能實(shí)現(xiàn)的功能，集中在一臺(tái)儀器一次現(xiàn)場(chǎng)測(cè)量，完成三項(xiàng)指標(biāo)檢測(cè)，節(jié)省了設(shè)備中的氣體，減少用戶的工作量.采用國(guó)外的傳感器；濕度采用純進(jìn)口高精度濕度傳感器、純度采用帶溫度補(bǔ)償?shù)臒釋?dǎo)傳感器，分解產(chǎn)物采用歐洲進(jìn)口的傳感器。彩色液晶顯示，實(shí)時(shí)顯示各種參數(shù)全程觸控，傻瓜式操作，海量信息存儲(chǔ)，內(nèi)置充電電池，交直流兩用。
更新時(shí)間:2026-01-12
精度高：采用精密高壓薄膜電容和精密高壓玻璃釉電阻，輸入阻抗高，降低了測(cè)試電流，功耗小，提高了儀器的測(cè)量精度和穩(wěn)定性。信號(hào)處理部分，采用高性能op進(jìn)行信號(hào)放大，運(yùn)用雙積分式 ad采樣技術(shù)，四位半液晶顯示，最高分辨率達(dá)到0.001kv，是高壓靜電電壓表的更新?lián)Q代產(chǎn)品。操作簡(jiǎn)單：采用撥碼開(kāi)關(guān)切換高低壓、交直流，方便快捷。四位半液晶直接顯示測(cè)量結(jié)果，簡(jiǎn)單直觀。為現(xiàn)場(chǎng)的檢測(cè)工作帶來(lái)極大的便利。
更新時(shí)間:2026-01-12
用于檢測(cè)電力線路中絕緣子的污穢附著情況，可一次測(cè)量絕緣子鹽密度和灰密度，簡(jiǎn)化了絕緣子污穢檢測(cè)的流程，非常適合巡檢現(xiàn)場(chǎng)和實(shí)驗(yàn)室使用。電力線路中絕緣子的污穢程度主要通過(guò)鹽密度（esdd）和灰密度的（nsdd）來(lái)表征，同時(shí)具備測(cè)量鹽密度和灰密度的功能。內(nèi)置了常用溶液體積、絕緣子型號(hào)，方便用戶直接調(diào)用，絕緣子型號(hào)與表面積支持用戶自定義，增加數(shù)據(jù)保存功能，保存十萬(wàn)組測(cè)試數(shù)據(jù)，本機(jī)查看數(shù)據(jù)，支持u盤導(dǎo)出數(shù)據(jù)，
更新時(shí)間:2026-01-12
bc302流動(dòng)測(cè)震儀;軸承狀態(tài)分析和紅外線溫度是基于微處理器的手持式機(jī)器狀態(tài)檢測(cè)儀器，具有振動(dòng)測(cè)量和評(píng)價(jià)、軸承狀態(tài)檢測(cè)和評(píng)價(jià)功能。流動(dòng)測(cè)震儀振動(dòng)檢測(cè)、軸承狀態(tài)分析和紅外線溫度測(cè)量，測(cè)量準(zhǔn)確測(cè)量速度≥1.5m/s,存 儲(chǔ)溫度-10℃~60℃, 用于振動(dòng)檢測(cè)、軸承狀態(tài)分析和紅外線溫度測(cè)量，應(yīng)急救災(zāi)地完整配置.
更新時(shí)間:2026-01-12
gjc4/40高低濃瓦斯傳感器廠家供應(yīng) gjc4/40高低濃瓦斯傳感器制造商 gjc4/40高低濃瓦斯傳感器價(jià)格電聯(lián)gj4/40(a)甲烷傳感器量大從優(yōu) 廠家直供gjc4/40(x)甲烷傳感器gj4/40(a)甲烷傳感器價(jià)格電聯(lián) 廠家批發(fā)gj4/40(a)甲烷傳感器
更新時(shí)間:2026-01-09
泰克tektronix 以太網(wǎng)一致性測(cè)試夾具 泰克tektronix 以太網(wǎng)一致性測(cè)試夾具，硬件測(cè)試，ddr測(cè)試，時(shí)序測(cè)試，紋波測(cè)試，抖動(dòng)測(cè)試
更新時(shí)間:2026-01-09
希而科作為 frizlen 官方授權(quán)代理，直供德國(guó)原裝功率電阻器。frizlen 始于 1914 年，經(jīng)四代家族傳承，產(chǎn)品通過(guò) iso 9001 與 iatf 16949 認(rèn)證，功率覆蓋 10w 至數(shù)百 kw，適配工業(yè)自動(dòng)化、新能源、軌道交通等多場(chǎng)景。依托希而科德國(guó)本土采購(gòu)與拼單優(yōu)勢(shì)，提供 100％ 正品保障、穩(wěn)定貨期及全流程服務(wù)，涵蓋標(biāo)準(zhǔn)化產(chǎn)品與定制方案，助力設(shè)備穩(wěn)定運(yùn)行。
更新時(shí)間:2026-01-09
12.5mm試驗(yàn)探棒|ip20c試驗(yàn)探棒基本簡(jiǎn)介：1、根據(jù)din40050等相應(yīng)條款制作而成。2、12.5mm試驗(yàn)探棒是進(jìn)行家用和類似用途電器防觸電保護(hù)試驗(yàn)的必備器具。
更新時(shí)間:2026-01-09
ipx56防噴水試驗(yàn)噴頭/ipx6強(qiáng)噴水試驗(yàn)裝置ipx5防噴水試驗(yàn)噴嘴一、 產(chǎn)品概述：防噴水試驗(yàn)裝置是依據(jù)gb4208的ipx5及ipx6、iec60529等標(biāo)準(zhǔn)的相關(guān)條款要求制作，用于對(duì)具有防噴水功能的器具或電器的防水性能進(jìn)行測(cè)試
更新時(shí)間:2026-01-09
燈頭溫升試驗(yàn)鎳圈滿足gb/t24392-2009 和 iec60360：2002相關(guān)燈頭溫升測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)要求制作而成。成分：ni純度99.6%以上的日本進(jìn)口純鎳；結(jié)構(gòu)和特性： 材料的晶粒應(yīng)精細(xì)且有規(guī)則結(jié)構(gòu)，晶粒度：zui小值為astm8(zui大不超過(guò)0.019
更新時(shí)間:2026-01-09
深圳兒童試驗(yàn)彎指/19號(hào)試驗(yàn)探棒基本簡(jiǎn)介：1、根據(jù)gb4706.1、iec61032-1997及 ul等相應(yīng)條款制作而成。2、19號(hào)兒童試驗(yàn)彎指（19號(hào)試驗(yàn)探棒）是進(jìn)行家用和類似用途電器防觸電保護(hù)試驗(yàn)的必備器具。
更新時(shí)間:2026-01-09
配電柜3c檢測(cè)用ip4x試具/ip40試驗(yàn)探針基本簡(jiǎn)介： 1、根據(jù)gb/t4208-2008、iec61032:1997、iec60529:2001及ul等相應(yīng)條款制作而成。2、d類試驗(yàn)探棒（d類試驗(yàn)針）是進(jìn)行家用和類似用途電器防觸電保護(hù)試驗(yàn)的必備器具。
更新時(shí)間:2026-01-09
ip10試驗(yàn)探棒/ip1x試驗(yàn)探球基本簡(jiǎn)介：1、根據(jù)gb/t4208-2008、iec61032:1997、iec60529:2001及ul等相應(yīng)條款制作而成。2、a類試驗(yàn)探棒（a類試驗(yàn)探球）是進(jìn)行家用和類似用途電器防觸電保護(hù)試驗(yàn)的必備器具。
更新時(shí)間:2026-01-09
彈簧沖擊器/ik碰撞能量試驗(yàn)裝置 基本簡(jiǎn)介：1、根據(jù)iec60068-2-75、gb/t2423.55-2006、gb4706.1、gb8898和gb7000、 iec884及ul1244等相應(yīng)條款制作而成，主要用于檢驗(yàn)家用和類似電器產(chǎn)品的外殼、操作桿、手柄、旋鈕、指示燈等外殼承受機(jī)械沖擊的能。2、本沖擊器外殼采用鋁制作。
更新時(shí)間:2026-01-09
插座保護(hù)門試驗(yàn)探針/1n試驗(yàn)探針基本簡(jiǎn)介：1、根據(jù)gb2099.1-2008,gb8898-97及相關(guān) iec等相應(yīng)條款制作而成。2、試驗(yàn)探針是進(jìn)行家用和類似用途電器防觸電保護(hù)試驗(yàn)的必備器具。
更新時(shí)間:2026-01-09
標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)指甲測(cè)試指甲 基本簡(jiǎn)介：1、根據(jù)gb4706.1-2005、iec60335-1及 ul等標(biāo)準(zhǔn)制作而成。2、試驗(yàn)指甲主要針對(duì)電擊或接觸運(yùn)動(dòng)部件的不可拆卸零件能否經(jīng)受得住正常使用中出現(xiàn)的機(jī)械應(yīng)力，達(dá)到規(guī)定防護(hù)等進(jìn)行測(cè)試的設(shè)備。$r
更新時(shí)間:2026-01-09
標(biāo)試驗(yàn)指針?shù)Ngb4706.1試驗(yàn)指基本簡(jiǎn)介：1、根據(jù)gb4706.1、gb2099.1及相關(guān) iec、 ul等相應(yīng)條款制作而成。2、標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)指針?shù)N是進(jìn)行家用和類似用途電器防觸電保護(hù)試驗(yàn)的必備器具。
更新時(shí)間:2026-01-09
ul試驗(yàn)彎指ul鉸接試驗(yàn)指pa100a探棒基本簡(jiǎn)介：1、根據(jù)ul1278、ul1026及ul507等相應(yīng)條款制作而成。2、ul試驗(yàn)彎指是進(jìn)行家用和類似用途電器防觸電保護(hù)試驗(yàn)的必備器具。
更新時(shí)間:2026-01-09
ipx34花灑式淋雨試驗(yàn)裝置ipx34手持式防淋水濺水試驗(yàn)裝置 試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：符合 iec60529:2001《degrees of protection provided by enclosures(ip code)》、gb4208-2008《外殼防護(hù)等(ip 代碼)》14.2.3、14.2.4 條款與圖 5
更新時(shí)間:2026-01-09
iec61032試驗(yàn)探棒gb4706.1全套試驗(yàn)指基本簡(jiǎn)介：1、根據(jù)iec61032、gb4706.1、gb2099.1、 iec60695、ul等相應(yīng)條款制作而成。2、試驗(yàn)探棒是進(jìn)行家用和類似用途電器防觸電保護(hù)試驗(yàn)的必備器具。
更新時(shí)間:2026-01-09
nfps-5000是阿儀網(wǎng)專為nand flash測(cè)試開(kāi)發(fā)的精密測(cè)試平臺(tái)，集成四大測(cè)試模塊，提供從基礎(chǔ)測(cè)試到分析的全套解決方案。系統(tǒng)支持自動(dòng)化測(cè)試流程，大幅提升測(cè)試效率和準(zhǔn)確性。
更新時(shí)間:2026-01-09
梅特勒電極ha405-dpa-sc-s8/120（有問(wèn)題，產(chǎn)品上留有碎渣） 硬件開(kāi)放實(shí)驗(yàn)室 開(kāi)放實(shí)驗(yàn)室 儀器租賃
更新時(shí)間:2026-01-09
emmc 上電時(shí)序測(cè)試 電源紋波測(cè)試emmc 芯片下方在敷銅時(shí)，焊盤部分要增加敷銅禁布框，避免銅皮分布不均影響散熱，導(dǎo)致貼片虛焊。
更新時(shí)間:2026-01-09
emmc 時(shí)鐘測(cè)試 數(shù)據(jù)信號(hào)測(cè)試電源紋波測(cè)試過(guò)大的問(wèn)題通常和使用的探頭以及端的連接方式有關(guān)。先檢查了用戶探頭的連接方式，發(fā)現(xiàn)其使用的是如下面左圖所示的長(zhǎng)的鱷魚(yú)夾地線，而且接地點(diǎn)夾在了單板的固定螺釘上，整個(gè)地環(huán)路比較大。由于大的地環(huán)路會(huì)引入更多的開(kāi)關(guān)電源造成的空間電磁輻射噪聲以及地環(huán)路噪聲，于是更換成如下面右圖所示的短的接地彈簧針。
更新時(shí)間:2026-01-09
emmc 控制信號(hào)測(cè)試 控制信號(hào)過(guò)沖測(cè)試 控制信號(hào)高低電平測(cè)試
更新時(shí)間:2026-01-09
emmc 復(fù)位測(cè)試 clk測(cè)試 dqs測(cè)試這是個(gè)典型的電源紋波測(cè)試的問(wèn)題。我們通過(guò)使用短的地線連接、換用低衰減比的探頭以及帶寬限制功能使得紋波噪聲的測(cè)試結(jié)果大大改善。
更新時(shí)間:2026-01-09
emmc4 上電時(shí)序測(cè)試 電源紋波測(cè)試 時(shí)鐘測(cè)試 數(shù)據(jù)信號(hào)測(cè)試實(shí)際上就是把電纜的頭接在示波器上，示波器設(shè)置為50歐姆輸入阻抗；電纜的另頭剝開(kāi)，屏蔽層焊接在被測(cè)電路地上，中心導(dǎo)體通過(guò)個(gè)隔直電容連接被測(cè)的電源信號(hào)。這種方法的優(yōu)點(diǎn)是低成本，低衰減比，缺點(diǎn)是致性不好，隔直電容參數(shù)及帶寬不好控制。
更新時(shí)間:2026-01-09
相關(guān)產(chǎn)品：emmc5 , 上電時(shí)序測(cè)試 , 電源紋波測(cè)試 , 時(shí)鐘測(cè)試 , 數(shù)據(jù)信號(hào)測(cè)試通俗的來(lái)說(shuō)，emmc=nand閃存+閃存控制芯片+標(biāo)準(zhǔn)接口封裝。
更新時(shí)間:2026-01-09
emmc4 , 復(fù)位測(cè)試 , clk測(cè)試 , dqs測(cè)試emmc則在其內(nèi)部集成了 flash controller，包括了協(xié)議、擦寫(xiě)均衡、壞塊管理、ecc校驗(yàn)、電源管理、時(shí)鐘管理、數(shù)據(jù)存取等功能。
更新時(shí)間:2026-01-09
emmc5 復(fù)位測(cè)試 clk測(cè)試 dqs測(cè)試包括card interface（cmd，data，clk）、memory core interface、總線接口控制（card interface controller）、電源控制、寄存器組。
更新時(shí)間:2026-01-09
emmc5 復(fù)位測(cè)試 clk測(cè)試mmc通過(guò)發(fā)cmd的方式來(lái)實(shí)現(xiàn)卡的初始化和數(shù)據(jù)訪問(wèn)。device identification mode包括3個(gè)階段idle state、ready state、identification state。
更新時(shí)間:2026-01-09
遇到的問(wèn)題pcie link不穩(wěn)定配置空間讀寫(xiě)正常，memory mapping空間讀寫(xiě)異常
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