其他產品及廠家

OTC5609C氣瓶泄漏測試儀
美國otc5609c氣瓶泄漏測試儀
更新時間:2026-01-12
CD1941-7B0，電量傳感器BD-AI
cd1941-7b0 電流變送器 ceq超爾崎 電流變送器產品設計與開發(fā)，現貨 cd1941-7b0 交流電流變送器 ceq超爾崎 3位半傳感器專用數顯表工程應用及實例，小梁
更新時間:2026-01-12
JUKI飛達校正儀貼片機飛達校正儀 氣動飛達校正儀/SMT飛達顯示器
商品名稱：juki feeder校正儀商品品牌：鑫鴻基/xhj商品產地：深圳商品尺寸（mm）：l500*w350*h500商品重量：約35kg適用機型：juki系列機型
更新時間:2026-01-12
實驗裝置
ssgh-1型牛頓環(huán)實驗裝置實驗內容：1、觀測牛頓環(huán)干涉現象2、用牛頓環(huán)測量平凸透鏡曲率半徑基本配置及參數：編號名稱規(guī)格件數1鈉燈低壓鈉燈，功率20w1套2低壓鈉燈電源220v，50hz1套3牛頓環(huán)牛頓環(huán)平凸透鏡
更新時間:2026-01-12
電子引伸計
yyu-25/100電子引伸計引伸計結構及工作原理 ：應變片、變形傳遞桿、彈性元件、限位標距桿、刀刃和夾緊彈簧等。測量變形時, 將引伸計裝卡于試件上, 刀刃與試件接觸而感受兩
更新時間:2026-01-12
顯微鏡
iia（b）型連續(xù)變倍體視顯微鏡是一種三目觀察儀器，具有較長的工作距離，寬闊的視野，較好的成像質量，以及7x-180x連續(xù)改變放大倍率等特點。操作簡單，使用方便，可供電子工業(yè)、臨床手術、巖礦分析
更新時間:2026-01-12
顯微鏡
ia（b）型連續(xù)變倍體視顯微鏡是一種雙目觀察儀器，具有較長的工作距離，寬闊的視野，較好的成像質量，以及7x-225x連續(xù)改變放大倍率等特點。操作簡單，使用方便，可供電子工業(yè)、臨床手術、巖礦分析、
更新時間:2026-01-12
測試儀
德國美翠mi2127精密接地電阻測試儀/土壤電阻率儀（二、三、四線法測量接地電阻和土壤電阻率） 采用傳統(tǒng)的打地樁方式來測量接地電阻，可用二、三、四線法，可測量
更新時間:2026-01-12
微壓計
axd610、axd620微壓計（美國alnor）儀器介紹：axd610和620微壓計使您在hvac的壓力測試更加簡單。這些結實耐用的儀器可以使用皮托管測量風管內風速。axd610手持式數
更新時間:2026-01-12
上海垃圾分類電子秤回收稱重設備定制語音播報重量
上海垃圾分類電子秤回收稱重設備定制語音播報重量?，F有垃圾分類回收現行的辦法主要是在垃圾場對大批量的垃圾集中分類，其缺點是很難實現準確分類，回收的各個種類中含雜質成分較多，且設備較為龐大。垃圾分類有效的方式是在源頭就進行分類，目出現多種投放于公共區(qū)域的垃圾分類箱。垃圾分類時，某些使用場所，為了鼓勵用戶積進行垃圾分類，會對分類的垃圾進行稱重，根據重量來對用戶積分獎勵，因此重量需要進行記錄，現有通常
更新時間:2026-01-12
城市道路積水監(jiān)測系統(tǒng)
城市道路積水監(jiān)測系統(tǒng)是山東天合環(huán)境科技有限公司研發(fā)生產，可以及時避免人員、車輛誤入深水路段造成重大人身傷害與經濟損失。
更新時間:2026-01-12
Fluke 6200-2便攜式電器安規(guī)測試儀
fluke 6200-2 pat測試儀是輕便、小巧的一鍵式解決方案，6200-2的設計宗旨是在不影響您和客戶安全的前提下更快地工作。一鍵式解決方案...只需按下一個按鈕，即可啟動預設測試程序。簡化測試實現更快更高效的工作方式。6200-2重約為3 kg，重量輕、易攜帶。堅固耐用的便攜箱(標配)可以提供運輸保護還提供額外存儲空間。體積小...該便攜式電器測試儀結構非常緊湊，并且具有福祿克一貫的耐用性
更新時間:2026-01-12
出租Tektronix USB2.0測試夾具
出租tektronix usb2.0測試夾具
更新時間:2026-01-12
廠家批發(fā)GJ4/40(A)甲烷傳感器
gjc4/40高低濃瓦斯傳感器廠家供應 gjc4/40高低濃瓦斯傳感器制造商 gjc4/40高低濃瓦斯傳感器價格電聯gj4/40(a)甲烷傳感器量大從優(yōu) 廠家直供gjc4/40(x)甲烷傳感器gj4/40(a)甲烷傳感器價格電聯 廠家批發(fā)gj4/40(a)甲烷傳感器
更新時間:2026-01-09
泰克tektronix 以太網一致性測試夾具
泰克tektronix 以太網一致性測試夾具 泰克tektronix 以太網一致性測試夾具，硬件測試，ddr測試，時序測試，紋波測試，抖動測試
更新時間:2026-01-09
百年傳承，正品保障！希而科代理進口Frizlen電阻器，助力設備穩(wěn)定運行
希而科作為 frizlen 官方授權代理，直供德國原裝功率電阻器。frizlen 始于 1914 年，經四代家族傳承，產品通過 iso 9001 與 iatf 16949 認證，功率覆蓋 10w 至數百 kw，適配工業(yè)自動化、新能源、軌道交通等多場景。依托希而科德國本土采購與拼單優(yōu)勢，提供 100％ 正品保障、穩(wěn)定貨期及全流程服務，涵蓋標準化產品與定制方案，助力設備穩(wěn)定運行。
更新時間:2026-01-09
12.5mm試驗探棒IP20C試驗探棒12.5試驗探球
12.5mm試驗探棒|ip20c試驗探棒基本簡介：1、根據din40050等相應條款制作而成。2、12.5mm試驗探棒是進行家用和類似用途電器防觸電保護試驗的必備器具。
更新時間:2026-01-09
IPX56防噴水試驗噴頭IPX6強噴水試驗裝置
ipx56防噴水試驗噴頭/ipx6強噴水試驗裝置ipx5防噴水試驗噴嘴一、 產品概述：防噴水試驗裝置是依據gb4208的ipx5及ipx6、iec60529等標準的相關條款要求制作，用于對具有防噴水功能的器具或電器的防水性能進行測試
更新時間:2026-01-09
燈頭溫升試驗鎳圈E14燈頭溫升試驗鎳圈E39溫升試驗燈座
燈頭溫升試驗鎳圈滿足gb/t24392-2009 和 iec60360：2002相關燈頭溫升測試標準要求制作而成。成分：ni純度99.6%以上的日本進口純鎳；結構和特性： 材料的晶粒應精細且有規(guī)則結構，晶粒度：zui小值為astm8(zui大不超過0.019
更新時間:2026-01-09
兒童試驗彎指19號試驗探棒試具19
深圳兒童試驗彎指/19號試驗探棒基本簡介：1、根據gb4706.1、iec61032-1997及 ul等相應條款制作而成。2、19號兒童試驗彎指（19號試驗探棒）是進行家用和類似用途電器防觸電保護試驗的必備器具。
更新時間:2026-01-09
配電柜3C檢測用IP4X試具IP40試驗探針I(yè)P4X試驗探棒
配電柜3c檢測用ip4x試具/ip40試驗探針基本簡介： 1、根據gb/t4208-2008、iec61032:1997、iec60529:2001及ul等相應條款制作而成。2、d類試驗探棒（d類試驗針）是進行家用和類似用途電器防觸電保護試驗的必備器具。
更新時間:2026-01-09
IP10試驗探棒IP1X試驗探球試具A鋼球探棒
ip10試驗探棒/ip1x試驗探球基本簡介：1、根據gb/t4208-2008、iec61032:1997、iec60529:2001及ul等相應條款制作而成。2、a類試驗探棒（a類試驗探球）是進行家用和類似用途電器防觸電保護試驗的必備器具。
更新時間:2026-01-09
彈簧沖擊器IK碰撞能量試驗裝置0.5J彈簧沖擊錘
彈簧沖擊器/ik碰撞能量試驗裝置 基本簡介：1、根據iec60068-2-75、gb/t2423.55-2006、gb4706.1、gb8898和gb7000、 iec884及ul1244等相應條款制作而成，主要用于檢驗家用和類似電器產品的外殼、操作桿、手柄、旋鈕、指示燈等外殼承受機械沖擊的能。2、本沖擊器外殼采用鋁制作。
更新時間:2026-01-09
插座保護門試驗探針1N試驗探針保護門試驗探針
插座保護門試驗探針/1n試驗探針基本簡介：1、根據gb2099.1-2008,gb8898-97及相關 iec等相應條款制作而成。2、試驗探針是進行家用和類似用途電器防觸電保護試驗的必備器具。
更新時間:2026-01-09
標準試驗指甲測試指甲試驗指甲
標準試驗指甲測試指甲 基本簡介：1、根據gb4706.1-2005、iec60335-1及 ul等標準制作而成。2、試驗指甲主要針對電擊或接觸運動部件的不可拆卸零件能否經受得住正常使用中出現的機械應力，達到規(guī)定防護等進行測試的設備。$r
更新時間:2026-01-09
深圳標試驗指針銷GB4706.1試驗指標準試驗指棒銷
標試驗指針銷gb4706.1試驗指基本簡介：1、根據gb4706.1、gb2099.1及相關 iec、 ul等相應條款制作而成。2、標準試驗指針銷是進行家用和類似用途電器防觸電保護試驗的必備器具。
更新時間:2026-01-09
UL試驗彎指UL鉸接試驗指PA100A試驗探棒
ul試驗彎指ul鉸接試驗指pa100a探棒基本簡介：1、根據ul1278、ul1026及ul507等相應條款制作而成。2、ul試驗彎指是進行家用和類似用途電器防觸電保護試驗的必備器具。
更新時間:2026-01-09
IPX34花灑式淋雨試驗裝置IPX34手持式防淋水濺水試驗裝置
ipx34花灑式淋雨試驗裝置ipx34手持式防淋水濺水試驗裝置 試驗標準：符合 iec60529:2001《degrees of protection provided by enclosures(ip code)》、gb4208-2008《外殼防護等(ip 代碼)》14.2.3、14.2.4 條款與圖 5
更新時間:2026-01-09
IEC61032試驗探棒GB4706.1全套試驗指標準試驗指
iec61032試驗探棒gb4706.1全套試驗指基本簡介：1、根據iec61032、gb4706.1、gb2099.1、 iec60695、ul等相應條款制作而成。2、試驗探棒是進行家用和類似用途電器防觸電保護試驗的必備器具。
更新時間:2026-01-09
Nand Flash 眼圖測試， 時序測試，抖動測試 幅度測試操作細節(jié)
nfps-5000是阿儀網專為nand flash測試開發(fā)的精密測試平臺，集成四大測試模塊，提供從基礎測試到分析的全套解決方案。系統(tǒng)支持自動化測試流程，大幅提升測試效率和準確性。
更新時間:2026-01-09
梅特勒電極（有問題，產品上留有碎渣）
梅特勒電極ha405-dpa-sc-s8/120（有問題，產品上留有碎渣） 硬件開放實驗室 開放實驗室 儀器租賃
更新時間:2026-01-09
EMMC 上電時序測試 電源紋波測試
emmc 上電時序測試 電源紋波測試emmc 芯片下方在敷銅時，焊盤部分要增加敷銅禁布框，避免銅皮分布不均影響散熱，導致貼片虛焊。
更新時間:2026-01-09
EMMC 時鐘測試 數據信號測試
emmc 時鐘測試 數據信號測試電源紋波測試過大的問題通常和使用的探頭以及端的連接方式有關。先檢查了用戶探頭的連接方式，發(fā)現其使用的是如下面左圖所示的長的鱷魚夾地線，而且接地點夾在了單板的固定螺釘上，整個地環(huán)路比較大。由于大的地環(huán)路會引入更多的開關電源造成的空間電磁輻射噪聲以及地環(huán)路噪聲，于是更換成如下面右圖所示的短的接地彈簧針。
更新時間:2026-01-09
EMMC 控制信號測試 控制信號過沖測試 控制信號高低電平測試
emmc 控制信號測試 控制信號過沖測試 控制信號高低電平測試
更新時間:2026-01-09
EMMC 復位測試 CLK測試 DQS測試
emmc 復位測試 clk測試 dqs測試這是個典型的電源紋波測試的問題。我們通過使用短的地線連接、換用低衰減比的探頭以及帶寬限制功能使得紋波噪聲的測試結果大大改善。
更新時間:2026-01-09
EMMC4 上電時序測試 電源紋波測試 時鐘測試 數據信號測試
emmc4 上電時序測試 電源紋波測試 時鐘測試 數據信號測試實際上就是把電纜的頭接在示波器上，示波器設置為50歐姆輸入阻抗；電纜的另頭剝開，屏蔽層焊接在被測電路地上，中心導體通過個隔直電容連接被測的電源信號。這種方法的優(yōu)點是低成本，低衰減比，缺點是致性不好，隔直電容參數及帶寬不好控制。
更新時間:2026-01-09
Emmc5 上電時序測試 電源紋波測試 時鐘測試 數據信號測試
相關產品：emmc5 , 上電時序測試 , 電源紋波測試 , 時鐘測試 , 數據信號測試通俗的來說，emmc=nand閃存+閃存控制芯片+標準接口封裝。
更新時間:2026-01-09
EMMC4 復位測試 CLK測試 DQS測試
emmc4 , 復位測試 , clk測試 , dqs測試emmc則在其內部集成了 flash controller，包括了協議、擦寫均衡、壞塊管理、ecc校驗、電源管理、時鐘管理、數據存取等功能。
更新時間:2026-01-09
EMMC5 復位測試 CLK測試 DQS測試
emmc5 復位測試 clk測試 dqs測試包括card interface（cmd，data，clk）、memory core interface、總線接口控制（card interface controller）、電源控制、寄存器組。
更新時間:2026-01-09
EMMC5 復位測試 CLK測試
emmc5 復位測試 clk測試mmc通過發(fā)cmd的方式來實現卡的初始化和數據訪問。device identification mode包括3個階段idle state、ready state、identification state。
更新時間:2026-01-09
PCIE2.0 3.0 驗證 調試和一致性測試解決方案
遇到的問題pcie link不穩(wěn)定配置空間讀寫正常，memory mapping空間讀寫異常
更新時間:2026-01-09
PCIE2.0 3.0 物理層一致性測試
cie2.0 3.0 物理層致性測試pcie總線與pci總線不同，pcie總線使用端到端的連接方式，在條pcie鏈路的兩端只能各連接個設備，這兩個設備互為是數據發(fā)送端和數據接收端。pcie鏈路可以由多條lane組成，目pcie鏈路×1、×2、×4、×8、×16和×32寬度的pcie鏈路，還有幾乎不使用的×12鏈路。
更新時間:2026-01-09
PCIE2.0 3.0 TX 發(fā)送 物理層一致性測試
pcie總線的層次組成結構與網絡中的層次結構有類似之處，但是pcie總線的各個層次都是使用硬件邏輯實現的。在pcie體系結構中，數據報文先在設備的核心層(device core)中產生，然后再經過該設備的事務層(transactionlayer)、數據鏈路層(data link layer)和物理層(physical layer)，終發(fā)送出去。
更新時間:2026-01-09
PCIE2.0 3.0 RX 接收 物理層一致性測試
pcie2.0 3.0 rx 接收 物理層致性測試當pcie設備進入休眠狀態(tài)，主電源已經停止供電時，pcie設備使用該信號向處理器系統(tǒng)提交喚醒請求，使處理器系統(tǒng)重新為該pcie設備提供主電源vcc。
更新時間:2026-01-09
PCIE Gen2/Gen3/Gen4 發(fā)送端 信號質量一致性測試
pcie 初始化完成后會進入l0狀態(tài)。異常狀態(tài)見pcie link 異常log。物理層link 不穩(wěn)定，懷疑以下原因：- 高速串行信號質量問題- serdes電源問題- 時鐘問題
更新時間:2026-01-09
pcie2.0x4 眼圖測試 物理層一致性測試
pcie2.0x4 眼圖測試 物理層致性測試集成電路的發(fā)明是人類歷史上的大創(chuàng)舉，它大地推動了人類的現代文明進程，在天無時無刻不在影響著我們的生活。進入 21 世紀以來，集成電路的發(fā)展則更是狂飆猛進。天的大規(guī)模集成電路生產和制造工藝已經達到 10 nm 量產水平，更高的集成度意味著同等體積下提供了更高的性能，當然對業(yè)內從業(yè)者來說遇到的挑戰(zhàn)和問題也就越來越嚴峻。
更新時間:2026-01-09
pcie2.0x8 眼圖測試 物理層一致性測試
pcie2.0x8 眼圖測試 物理層致性測試在個處理器系統(tǒng)中，般提供×16的pcie插槽，并使用petp0~15、petn0~15和perp0~15、pern0~15共64根信號線組成32對差分信號，其中16對petxx信號用于發(fā)送鏈路，另外16對perxx信號用于接收鏈路。除此之外pcie總線還使用了下列輔助信號。
更新時間:2026-01-09
Pcie1.0x4 眼圖測試 物理層一致性測試
pcie1.0x4 眼圖測試 物理層致性測試日益降低的信號幅度必將帶來信噪比(snr)的挑戰(zhàn)，也即隨著信號幅度越來越低，對整個 電路系統(tǒng)的噪聲要求也越來越嚴格。尤其是在近 3 年來越來越熱的pam 調制，比如廣泛用于 200g/400g 傳輸的 pam-4 技術，由于采用 4 電平調制，其對信噪比的要求比采用nrz 編碼的信噪比要高 9db.
更新時間:2026-01-09
Pcie1.0x8 眼圖測試 物理層一致性測試
pcie1.0x8 眼圖測試 物理層致性測試ci總線定義了兩類配置請求，個是type00h配置請求，另個是type 01h配置請求。
更新時間:2026-01-09

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