光學(xué)測(cè)量?jī)x產(chǎn)品及廠家

在線壽命和電阻率逐行掃描儀
mdpinline ingot 光伏測(cè)量?jī)x器，多晶形貌少子壽命測(cè)量系統(tǒng)是為高產(chǎn)量生產(chǎn)用戶而設(shè)計(jì)的。對(duì)于一個(gè)面，以1毫米的分辨率，無接觸、無破壞地測(cè)量電阻率和少子壽命花費(fèi)不到一分鐘。電阻率和導(dǎo)電類型變化的自動(dòng)掃描可用于質(zhì)量控制和監(jiān)測(cè)爐子性能。面可以自動(dòng)轉(zhuǎn)動(dòng)，以便測(cè)量所有的四個(gè)側(cè)面。
更新時(shí)間:2026-01-13
德國(guó)Sentech激動(dòng)掃描系統(tǒng)
德國(guó)sentech激動(dòng)掃描系統(tǒng)mdppro,少子壽命測(cè)量?jī)x器的特征在于以1mm分辨率對(duì)500mm的一個(gè)面在不到4分鐘內(nèi)完成掃描。電阻率和少子壽命的測(cè)量完全無觸摸。利用微波檢測(cè)光電導(dǎo)率(mdp)同時(shí)測(cè)量少子壽命、光電導(dǎo)率、電阻率和p/n導(dǎo)電類型的變化。
更新時(shí)間:2026-01-13
自動(dòng)掃描薄膜測(cè)量?jī)x器
sensol是sentech光伏產(chǎn)品組合中的自動(dòng)大面積掃描儀器。自動(dòng)表征膜厚、薄層電阻、霧度、反射和透射的均勻性。使用sensol，可以監(jiān)測(cè)大型玻璃基板上的沉積過程的均勻性，從而可以顯著減少儀器維護(hù)后重新開始生產(chǎn)的時(shí)間。
更新時(shí)間:2026-01-13
德國(guó)Sentech光伏測(cè)量?jī)x
senperc pv 是perc電池制造質(zhì)量控制的創(chuàng)新解決方案。senperc pv 測(cè)量al2o3/sinx堆疊層和用于鈍化perc電池的單層膜。監(jiān)測(cè)沉積過程的穩(wěn)定性。由此，可以優(yōu)化維護(hù)時(shí)間間隔。
更新時(shí)間:2026-01-13
德國(guó)Sentech光伏測(cè)量?jī)x器
德國(guó)sentech光伏測(cè)量?jī)x器mdpspot，具有成本效益的臺(tái)式少子壽命測(cè)試儀mdpspot可用于表征晶片或面。它為少子壽命測(cè)量提供了一個(gè)測(cè)量點(diǎn)。 低成本桌面式壽命測(cè)量系統(tǒng)，用于手動(dòng)操作表征不同制備階段的各種不同硅樣品?？蛇x的手動(dòng)操作z軸用于厚度多達(dá)156毫米的樣品。標(biāo)準(zhǔn)軟件可輸出可視化的測(cè)量結(jié)果。
更新時(shí)間:2026-01-13
薄膜反射和透射的在線監(jiān)測(cè)系統(tǒng)
薄膜反射和透射的在線監(jiān)測(cè)系統(tǒng) rt inline 反射率、透射率和膜厚的高速在線測(cè)量是rt inline的設(shè)計(jì)特點(diǎn)。傳感器頭陣列掃描薄膜在大型玻璃基板上的反射和/或透射，作為內(nèi)部參考測(cè)量。利用ftpadv expert軟件可以方便地進(jìn)行層沉積過程的在線監(jiān)測(cè)。軟件接口可用于與主機(jī)的數(shù)據(jù)通信。
更新時(shí)間:2026-01-13
ALD實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)儀
sentech ald實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)儀是一種新型的光學(xué)診斷工具，是心靈超高分辨率的單一ald循環(huán)。在不破壞真空的條件下分析薄膜特性(生長(zhǎng)速率，厚度，折射率)，在短時(shí)間內(nèi)開發(fā)新工藝、實(shí)時(shí)研究ald循環(huán)中的反應(yīng)機(jī)理是sentech ald實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)儀的主要應(yīng)用。
更新時(shí)間:2026-01-13
德國(guó)Optosol 涂層吸收率發(fā)射率檢測(cè)儀
德國(guó)optosol r1 涂層吸收率發(fā)射率檢測(cè)儀，用于測(cè)量管狀或平面太陽能吸收涂層的定向熱發(fā)射度，其基礎(chǔ)是測(cè)量來自擴(kuò)展熱源的紅外輻射的反射率操作溫度:70 - 90°c
更新時(shí)間:2026-01-13
德Optosol太陽能吸收率發(fā)射率檢測(cè)儀
德optosol-k3 太陽能吸收率發(fā)射率檢測(cè)儀，k3型發(fā)射率檢測(cè)儀由一個(gè)被加熱到70℃的發(fā)光體（作為熱輻射源）和三個(gè)對(duì)波長(zhǎng)在8-14μm范圍的光線敏感的探測(cè)器組成。 來自發(fā)光體的輻射均勻分布在用作漫射輻射源的積分球內(nèi)。檢測(cè)器以與樣品表面法線成12°的角度安裝。被測(cè)量的是由樣品反射回來的輻射。
更新時(shí)間:2026-01-13
德國(guó)Optosol 太陽能平板集熱器膜層吸收與發(fā)射率快速測(cè)量?jī)x
optosol absorber control k1 太陽能平板集熱器膜層吸收與發(fā)射率快速測(cè)量?jī)x，
更新時(shí)間:2026-01-13
美國(guó)OAI標(biāo)準(zhǔn)太陽能模擬器
trisol aaa美國(guó)oai標(biāo)準(zhǔn)太陽能模擬器，低成本，標(biāo)準(zhǔn)太陽模擬器提供高度準(zhǔn)直，均勻的光，幾乎任何材料或產(chǎn)品暴露在陽光下長(zhǎng)時(shí)間或短時(shí)間的基本測(cè)試。根據(jù)配置，這些太陽能模擬器的輸出功率為350w-5,000w。
更新時(shí)間:2026-01-13
美國(guó)OAI太陽能模擬器
tss-52,tss-100,tss-156,tss-208,tss-300美國(guó)oai太陽能模擬器，這些模擬器,取決于配置、輸出額定350 w -5000 w。oai 3 a太陽模擬器可以提供一個(gè)范圍的空氣質(zhì)量過濾器復(fù)制太陽能模擬太陽的光譜。目的探明oai透鏡和鏡像技術(shù)可以使一個(gè)廣泛的接觸區(qū)域。
更新時(shí)間:2026-01-13
日本RION液體光學(xué)顆粒度儀
日本rion液體光學(xué)顆粒度儀ks-41b，可檢測(cè)光阻產(chǎn)品、sog 等產(chǎn)品中 0.1um 的顆粒。
更新時(shí)間:2026-01-13
日本RION液體光學(xué)顆粒度儀
日本rion液體光學(xué)顆粒度儀ks-19f,寬廣的測(cè)試范圍，可測(cè)試 0.03~0.13um 之間的顆粒只需要小小的樣品取樣量就可以得到高效率高精準(zhǔn)的顆粒數(shù)據(jù)。
更新時(shí)間:2026-01-13
美AZ太陽能吸收率發(fā)射率測(cè)量?jī)x
美az 總輻射度/太陽能吸收率(tesa)便攜式反射計(jì) tesa 2000，根據(jù)astm e408測(cè)定熱發(fā)射率和空氣質(zhì)量為零時(shí)的太陽吸收率(空間應(yīng)用)。它緊湊，輕巧，堅(jiān)固耐用，符合人體工程學(xué)設(shè)計(jì)，便于在野外或?qū)嶒?yàn)室中使用。
更新時(shí)間:2026-01-13
日本RION氣體粒子計(jì)數(shù)器
日本rion氣體粒子計(jì)數(shù)器：kl-28b/28bf( 光散射法）,粒徑范圍（2個(gè)通道）：≥0.2μm， ≥0.5μm, 大粒子數(shù)濃度：1 200 顆/l （誤差值低于5%）
更新時(shí)間:2026-01-13
日本RION 液體光學(xué)顆粒度儀
日本rion 液體光學(xué)顆粒度儀：ks-16/16f ( 光散射法）, 大粒子數(shù)濃度：1 200 顆/l （誤差值低于5%）, 粒徑范圍（5個(gè)通道）：≥0.1μm， ≥0.15μm ， ≥0.2μm ， ≥0.3μm, ≥0.5μm
更新時(shí)間:2026-01-13
日本RION 液體光學(xué)顆粒度儀
日本rion 液體光學(xué)顆粒度儀：ks-17b ( 光散射法）,純水用，大粒子數(shù)濃度：100 000 顆/ml （誤差值低于5%），粒徑范圍（2個(gè)通道）：≥0.05μm， ≥0.1μm （4通道需工廠定制）
更新時(shí)間:2026-01-13
日本理音RION液體光學(xué)顆粒度儀
日本理音rion液體光學(xué)顆粒度儀ks-19f，寬廣的測(cè)試范圍，可測(cè)試 0.03~0.13um 之間的顆粒只需要小小的樣品取樣量就可以得到高效率高精準(zhǔn)的顆粒數(shù)據(jù)。
更新時(shí)間:2026-01-13
日本RION粒子計(jì)數(shù)器
日本rion粒子計(jì)數(shù)器kc-24 ( 光散射法）,液體粒子計(jì)數(shù)器，可檢測(cè)從純水到氫氟酸各種各樣的液體。可測(cè) 0.1um 空氣顆粒度儀kc-24
更新時(shí)間:2026-01-13
日本RION液體光學(xué)顆粒度儀
日本rion液體光學(xué)顆粒度儀ks-41a ( 光阻用），可檢測(cè)光阻產(chǎn)品、sog 等產(chǎn)品中 0.15um 的顆粒。粒徑范圍（4個(gè)通道，出廠默認(rèn)）：≥0.15μm， ≥0.2μm ， ≥0.3μm ， ≥0.5μm
更新時(shí)間:2026-01-13
德國(guó)NETZSCH 閃射法導(dǎo)熱儀
lfa 467 hyperflash 閃射法導(dǎo)熱儀，自由選擇測(cè)試氣氛，優(yōu)化結(jié)構(gòu)設(shè)置與閃射光源，16位自動(dòng)進(jìn)樣器，高的測(cè)量效率，寬廣的溫度范圍，靈活配備冷卻系統(tǒng)，設(shè)計(jì)獨(dú)特，性能優(yōu)異，配備氙燈光源的，高溫測(cè)試系統(tǒng)，寬廣的溫度范圍，真空密閉爐體，確保氣氛純凈，防止氧化，內(nèi)置微型管式爐，更高的測(cè)量效率，高數(shù)據(jù)采集速率- 用于薄膜與高導(dǎo)熱材料的解決方案
更新時(shí)間:2026-01-13
OAI UV METER
oai is a world leader in uv liight & energy measurement instrumentation used for reliable accurate calibrated control of the hotolithography processes in the semiconductor
更新時(shí)間:2026-01-13
日本理學(xué)X射線衍射儀
日本理學(xué)x射線衍射儀 tfxrd-300/200， 適用于near-fab application的無損方式xrd·mapping tool有多種光學(xué)元件可選的高精度測(cè)角儀，用于氮化鎵（gan)質(zhì)量管理，可對(duì)應(yīng)大規(guī)格晶圓的x射線衍射分析（xrd)系統(tǒng)
更新時(shí)間:2026-01-13
日本理學(xué)X射線衍射儀
日本理學(xué)x射線衍射儀 tfxrd-300/200， 適用于near-fab application的無損方式xrd·mapping tool有多種光學(xué)元件可選的高精度測(cè)角儀，用于氮化鎵（gan)質(zhì)量管理，可對(duì)應(yīng)大規(guī)格晶圓的x射線衍射分析（xrd)系統(tǒng)
更新時(shí)間:2026-01-13
德國(guó)ThetaMetrisis FR-Mini 膜厚測(cè)量?jī)x
fr-mini 是一款緊湊型裝置，專為大學(xué)教育和研究實(shí)驗(yàn)室設(shè)計(jì)，用于快速、準(zhǔn)確和無損地表征各種不同的涂層。使用 fr-mini，用戶還可以在較寬的光譜范圍內(nèi)輕松進(jìn)行反射率和/或透射率測(cè)量。
更新時(shí)間:2026-01-13
德國(guó)ThetaMetrisis FR-Pro 膜厚測(cè)量?jī)x
fr-pro 膜厚測(cè)量?jī)x 用于表征1nm-3mm厚度范圍內(nèi)的 涂層的模塊化和可擴(kuò)展平臺(tái)。
更新時(shí)間:2026-01-13
德國(guó)TheMetrisis FR-Scanner自動(dòng)化超高速薄膜厚度測(cè)繪
fr-scanner 是一款緊湊的臺(tái)式測(cè)量工具，全自動(dòng)測(cè)繪涂層的厚度，基底適用于晶圓，掩膜版及其它材料。fr-scanner 可以快速和準(zhǔn)確地測(cè)量薄膜特性，比如厚度，折射系數(shù)，均勻性，色度等，真空吸盤可應(yīng)用于任何直徑或其它形狀的樣品。
更新時(shí)間:2026-01-13
德國(guó)EMO 紅外觀察鏡/紅外夜視儀
德國(guó)emo公司的86600和86910紅外觀察儀選用與7215同款顯像管6914，具有較好的分辨率和靈敏度。是一個(gè)高性能，手持式近紅激光外觀察儀?？捎糜诩t外激光光路調(diào)節(jié)、激光器組裝精密小孔對(duì)準(zhǔn)、熒光觀察等。
更新時(shí)間:2026-01-12
意大利Dynamic Optics自適應(yīng)透鏡Dynamic Optics
dynamic optics以自適應(yīng)光學(xué)技術(shù)的領(lǐng)導(dǎo)者為企業(yè)發(fā)展目標(biāo)。在成像和激光處理中，要求對(duì)光學(xué)系統(tǒng)中使用的光學(xué)器件進(jìn)行可調(diào)諧調(diào)制----離焦調(diào)整、像差校正、光整形。dynamic optics可變形光學(xué)元件和波前傳感測(cè)量為各種應(yīng)用提供了創(chuàng)新解決方案?？梢蕴峁┆?dú)特的透射波前調(diào)制器、超高反射率可變形反射鏡和波前傳感測(cè)量的解決方案。
更新時(shí)間:2026-01-12
意大利Dynamic Optics高速可變形鏡頭
快速對(duì)焦鏡頭是一種調(diào)焦模塊，可安裝在固定焦距鏡頭前，以快速改變焦距，使用戶能夠比使用傳統(tǒng)機(jī)械移動(dòng)鏡頭更快的重新聚焦鏡頭。其內(nèi)置驅(qū)動(dòng)器專門用于精確控制壓電元件。該庫(kù)包括自動(dòng)聚焦算法和校準(zhǔn)工具，幫助用戶將ao模塊集成到其產(chǎn)品或應(yīng)用程序中。
更新時(shí)間:2026-01-12
Fluence Blueback: 基于SPIDER的飛秒激光超短脈沖測(cè)量?jī)x
fluence blueback:基于spider的飛秒激光超短脈沖測(cè)量?jī)x是一款實(shí)時(shí)超短激光脈沖測(cè)量?jī)x，為超快振蕩器和放大器提供高分辨率測(cè)量。通過使用fluence blueback，用戶可以實(shí)時(shí)觀察脈沖的變化，以此獲得超短脈沖特性的準(zhǔn)確信息。
更新時(shí)間:2026-01-12
MS-ROC多次自相關(guān)儀
ms-roc（multi-shot row optical autocorrelator）使用二階掃描自相關(guān)實(shí)現(xiàn)脈沖寬度測(cè)量。它基于邁克爾遜干涉儀和二次諧波生成（shg 自相關(guān)）。不同的型號(hào)允許分析低至 4 fs 的超短脈沖和 80 ps 的長(zhǎng)脈沖，即使對(duì)于 pj 和 nj 范圍內(nèi)的低脈沖能量也是如此。高達(dá) 130ps/s 的高掃描速度是實(shí)時(shí)測(cè)量的理想選擇。
更新時(shí)間:2026-01-12
MIKS系列脈沖壓縮器
n2-photonics提供的miks系列脈沖壓縮器，可以光譜展寬和時(shí)間壓縮您的脈沖。輸出的脈沖寬度取決于輸入的脈沖寬度。特點(diǎn)：全天候穩(wěn)定運(yùn)行;輕松與現(xiàn)有激光系統(tǒng)集成;無有源光學(xué)元件;無機(jī)械移動(dòng)部件;無需維護(hù)、可在惡劣環(huán)境中運(yùn)行
更新時(shí)間:2026-01-12
經(jīng)濟(jì)型FROG超短脈沖測(cè)量?jī)xGRENOUILLE
美國(guó)swamp optics現(xiàn)在提供其首款經(jīng)濟(jì)型grenouille：8-50-eco，幾乎具有標(biāo)準(zhǔn)款8-50-usb的所有功能。 8-50-eco與與標(biāo)準(zhǔn)款構(gòu)造基本相同，具有基本相同的光學(xué)元件。當(dāng)預(yù)算不足以購(gòu)買標(biāo)準(zhǔn)frog脈沖測(cè)量設(shè)備時(shí)，8-50-eco可作為最佳經(jīng)濟(jì)選擇。8-50-eco經(jīng)濟(jì)型frog超短脈沖測(cè)量?jī)xgrenouille
更新時(shí)間:2026-01-12
單次飛秒脈沖測(cè)量?jī)x
單次飛秒脈沖測(cè)量?jī)xfast frog產(chǎn)品線提供基于二次諧波產(chǎn)生可靠和緊湊的單鏡頭frog。波前分割技術(shù)和小型成像光譜儀等關(guān)鍵設(shè)計(jì)特點(diǎn)使得fast frog非常易于使用，并提供了高水平的準(zhǔn)確性。飛秒脈沖測(cè)量?jī)xfast frog可用于覆蓋廣泛的光譜范圍（480-2100nm）和廣泛的脈沖寬度范圍（ 5fs-80 ps）。
更新時(shí)間:2026-01-12
紅外超短脈沖測(cè)量?jī)xFROG飛秒激光測(cè)量Swampoptics
美國(guó)swamp optics公司提供最具創(chuàng)新和最高性價(jià)比的frog設(shè)備，專用于測(cè)量超短激光脈沖。紅外grenouille可通信波長(zhǎng)范圍內(nèi)工作，覆蓋900-1620nm，支持光纖耦合輸入，從而進(jìn)一步方便使用。紅外超短脈沖測(cè)量?jī)xfrog飛秒激光測(cè)量swampoptics
更新時(shí)間:2026-01-12
太赫茲近場(chǎng)探針
thz，太赫茲，近場(chǎng)探針，太赫探測(cè)，thz near-field optical probe，太赫茲近場(chǎng)探測(cè)，太赫茲近場(chǎng)探針，thz近場(chǎng)探測(cè)，thz探針，thz近場(chǎng)探針
更新時(shí)間:2026-01-12
磁光克爾效應(yīng)磁滯回線測(cè)量?jī)x 磁滯回線測(cè)量?jī)x
 從當(dāng)下主流的機(jī)械硬盤，到未來的磁性存儲(chǔ)單元，磁滯回線測(cè)量都是評(píng)估薄膜性質(zhì)的重要手段。 相較于電學(xué)霍爾測(cè)量和震動(dòng)磁強(qiáng)計(jì)，光磁克爾效應(yīng)具有測(cè)量速度快，精度高，非侵入，且不需要對(duì)樣品進(jìn)行加工或切
更新時(shí)間:2026-01-12
低噪聲高速近紅外InGaAs相機(jī)
snake 是新一代的vga格式的ingaas近紅外相機(jī)，具有即插即用能力。工作在900-1700nm的swir光譜范圍，該紅外相機(jī)具有出色的性能，在靈敏度，噪聲，暗電流和操作方便性都具有非常高的優(yōu)勢(shì)。該相機(jī)提供了oem版本，集成模塊化接口設(shè)計(jì)，易于集成于用戶的系統(tǒng)中，同時(shí)可提供數(shù)據(jù)處理能力?？蓱?yīng)用于高光譜儀器，激光束分析，半導(dǎo)體檢測(cè)，生物醫(yī)學(xué)研究和國(guó)防等。
更新時(shí)間:2026-01-12
微型高精度光譜儀
asp-75微型高精度光譜儀占地面積小，重量為300克。該設(shè)計(jì)的簡(jiǎn)單性允許將寬光譜范圍和高分辨率與超過緊湊尺寸相結(jié)合。asp-75微型高精度光譜儀可用于各種空間要求苛刻的應(yīng)用，也可用于任何設(shè)備的oem集成。該裝置具有特殊的光纖輸入和光譜狹縫，光纖狹縫的大小由探測(cè)器調(diào)節(jié)。它允許測(cè)量自由空間或光纖信號(hào)而無需任何重新對(duì)準(zhǔn)。但是，由于光纖中信號(hào)調(diào)制和隨后的頻譜失真，不建議使用光纖測(cè)量飛秒激光的頻譜。
更新時(shí)間:2026-01-12
INT10-M邁克爾遜 PLX 單片干涉儀(中紅外 FTIR 光譜儀組件)
int10-m邁克爾遜 plx 單片干涉儀(中紅外 ftir 光譜儀組件)產(chǎn)品應(yīng)用中紅外光譜分析儀
更新時(shí)間:2026-01-12
BladeCam2-HR-1310 CMOS基礎(chǔ)型光斑分析儀相機(jī) 355-1350nm
bladecam2-hr-1310 cmos基礎(chǔ)型光斑分析儀相機(jī) 355-1350nm 產(chǎn)品應(yīng)用連續(xù)激光的光束分析激光和激光系統(tǒng)的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試光學(xué)組裝和儀器校準(zhǔn)光束漂移和記錄使用 m2du 平臺(tái)測(cè)量 m2
更新時(shí)間:2026-01-12
NIR100近紅外光譜儀
nir100近紅外光譜儀nir100紅外光譜儀具有高靈敏度和緊湊型設(shè)計(jì) ，可在780-1700 nm光譜范圍內(nèi)與多種光源配合使用。其精密工程設(shè)計(jì)、無移 動(dòng)部件以及非制冷線性ingaas傳感器的特點(diǎn) ，使其成為各種光譜應(yīng)用的理想選擇 ，且無需長(zhǎng)期信號(hào)存儲(chǔ)。
更新時(shí)間:2026-01-12
Cobra-S 800 超高速光譜儀
cobra-s 800 超高速光譜儀產(chǎn)品應(yīng)用皮膚科眼前節(jié)成像亞表面材料檢查血管造影測(cè)振實(shí)時(shí)3d成像
更新時(shí)間:2026-01-12
FS70L-TH 用于半導(dǎo)體檢測(cè)顯微鏡 (1X管鏡頭 TV接口激光)
fs70l-th 用于半導(dǎo)體檢測(cè)顯微鏡 (1x管鏡頭 tv接口激光)應(yīng)用：切割、修整、校正、 給半導(dǎo)體電路做標(biāo)記薄膜(絕緣膜) 清潔與加工、液晶彩色濾光器的修復(fù)(校正錯(cuò)誤)。還可用作光學(xué)觀察剖面圖以便探針分析半導(dǎo)體故障。? 可用于紅外光學(xué)系統(tǒng)*。
更新時(shí)間:2026-01-12
精準(zhǔn)測(cè)量的理想之選 —— 標(biāo)準(zhǔn)型全自動(dòng)影像測(cè)量?jī)x
標(biāo)準(zhǔn)型全自動(dòng)影像測(cè)量?jī)x是一種用于精密測(cè)量的光學(xué)儀器，它融合了光學(xué)成像、機(jī)械運(yùn)動(dòng)控制、圖像處理以及計(jì)算機(jī)軟件等多種技術(shù)，在工業(yè)制造、電子、汽車、模具等眾多領(lǐng)域有著廣泛的應(yīng)用
更新時(shí)間:2026-01-12
不分光紅外CO分析儀
不分光紅外co分析儀是我公司針對(duì)公共場(chǎng)所、工作場(chǎng)所的空氣中的有毒有害物質(zhì)進(jìn)行檢查的高精度儀器，儀器采用不分光紅外分析法/非分散紅外法（ndir）測(cè)量空氣中的壹氧化碳、二氧化碳濃等的濃度，具有測(cè)量精度高，使用壽命長(zhǎng)，交叉干擾小等優(yōu)點(diǎn)，是環(huán)境監(jiān)測(cè)域，職業(yè)衛(wèi)生監(jiān)測(cè)域的必備儀器
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紫外差分煙氣分析儀
gr-3028型紫外煙氣綜合分析儀（以下簡(jiǎn)稱分析儀）以紫外差分吸收光譜技術(shù)為核心的新型產(chǎn)品，主要用于排氣管道中有害氣體成分的測(cè)量，廣泛應(yīng)用于環(huán)境監(jiān)測(cè)以及熱工參數(shù)測(cè)量等部門。該分析儀性能指標(biāo)均符合國(guó)家環(huán)保局頒布的煙氣測(cè)試儀的有關(guān)規(guī)定。采用紫外差分吸收光譜技術(shù)和化學(xué)計(jì)量學(xué)算法測(cè)量so2/no/no2/o2/co/co2等氣體的濃度，不受煙氣中水蒸氣影響，具有較高
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智能尖軌降低值測(cè)量?jī)x,數(shù)顯尖軌測(cè)量尺
尖軌自身的加工誤差和尖軌磨損導(dǎo)致輪對(duì)與直尖軌和基本軌組合受力不良，直尖軌降低值不符合要求是道岔晃車的根本原因和引起晃車的重要原因。hyjg-1智能尖軌降低值測(cè)量?jī)x是用來測(cè)量尖軌相對(duì)于基本軌的降低值以及心軌相對(duì)于翼軌的降低值的用儀器。
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最新產(chǎn)品

熱門儀器： 液相色譜儀 氣相色譜儀 原子熒光光譜儀 可見分光光度計(jì) 液質(zhì)聯(lián)用儀 壓力試驗(yàn)機(jī) 酸度計(jì)（PH計(jì)） 離心機(jī) 高速離心機(jī) 冷凍離心機(jī) 生物顯微鏡 金相顯微鏡 標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì) 生物試劑