光學(xué)測量儀產(chǎn)品及廠家

德國NETZSCH差示掃描量熱儀
差示掃描量熱儀dsc 300 ，是全面、可靠的dsc儀器系列，表征材料熱性能游刃有余。
更新時間:2026-01-13
臺式薄膜探針反射儀
ftpadv 臺式薄膜探針反射儀臺式薄膜探針反射儀ftpadv，ftpadv是一種具有成本效益的臺式反射膜厚儀解決方案，它具有非?？焖俚暮穸葴y量。在100毫秒以內(nèi)進(jìn)行測量，其精度低于0.3nm，膜厚范圍在50 nm -25 μm。為了便于分光反射測量操作，該儀器包括了范圍廣泛的預(yù)定配方。
更新時間:2026-01-13
綜合薄膜測量軟件
ftpadv expert 綜合薄膜測量軟件，光譜反射測量軟件ftpadv expert是專門為測量和分析r(λ)和t(λ)而設(shè)計的。用于確定各種材料的薄膜厚度、消光系數(shù)或折射率的光譜數(shù)據(jù)分析，這些參數(shù)都被加載到sentech光譜反射測量軟件中，使得能夠根據(jù)cauchy色散、drude振蕩給出的參數(shù)描述和擬合材料。
更新時間:2026-01-13
光伏測量儀器
mdpinline 光伏測量儀器，一秒內(nèi)完成正片晶片掃描。mdpinline是為高速自動掃描硅晶片而設(shè)計的，它以每片不到一秒的時間記錄少子壽命的全部形貌。利用微波檢測光電導(dǎo)率定量測量少子壽命。憑借其緊湊的設(shè)計，mdpinline可以靈活地集成在傳送帶上或晶片分選系統(tǒng)中。
更新時間:2026-01-13
光伏測量儀器
mdpinline ingot 光伏測量儀器，多晶形貌少子壽命測量系統(tǒng)是為高產(chǎn)量生產(chǎn)用戶而設(shè)計的。對于一個面，以1毫米的分辨率，無接觸、無破壞地測量電阻率和少子壽命花費(fèi)不到一分鐘。電阻率和導(dǎo)電類型變化的自動掃描可用于質(zhì)量控制和監(jiān)測爐子性能。面可以自動轉(zhuǎn)動，以便測量所有的四個側(cè)面。
更新時間:2026-01-13
在線壽命和電阻率逐行掃描儀
mdpinline ingot 光伏測量儀器，多晶形貌少子壽命測量系統(tǒng)是為高產(chǎn)量生產(chǎn)用戶而設(shè)計的。對于一個面，以1毫米的分辨率，無接觸、無破壞地測量電阻率和少子壽命花費(fèi)不到一分鐘。電阻率和導(dǎo)電類型變化的自動掃描可用于質(zhì)量控制和監(jiān)測爐子性能。面可以自動轉(zhuǎn)動，以便測量所有的四個側(cè)面。
更新時間:2026-01-13
德國Sentech激動掃描系統(tǒng)
德國sentech激動掃描系統(tǒng)mdppro,少子壽命測量儀器的特征在于以1mm分辨率對500mm的一個面在不到4分鐘內(nèi)完成掃描。電阻率和少子壽命的測量完全無觸摸。利用微波檢測光電導(dǎo)率(mdp)同時測量少子壽命、光電導(dǎo)率、電阻率和p/n導(dǎo)電類型的變化。
更新時間:2026-01-13
自動掃描薄膜測量儀器
sensol是sentech光伏產(chǎn)品組合中的自動大面積掃描儀器。自動表征膜厚、薄層電阻、霧度、反射和透射的均勻性。使用sensol，可以監(jiān)測大型玻璃基板上的沉積過程的均勻性，從而可以顯著減少儀器維護(hù)后重新開始生產(chǎn)的時間。
更新時間:2026-01-13
德國Sentech光伏測量儀
senperc pv 是perc電池制造質(zhì)量控制的創(chuàng)新解決方案。senperc pv 測量al2o3/sinx堆疊層和用于鈍化perc電池的單層膜。監(jiān)測沉積過程的穩(wěn)定性。由此，可以優(yōu)化維護(hù)時間間隔。
更新時間:2026-01-13
德國Sentech光伏測量儀器
德國sentech光伏測量儀器mdpspot，具有成本效益的臺式少子壽命測試儀mdpspot可用于表征晶片或面。它為少子壽命測量提供了一個測量點(diǎn)。 低成本桌面式壽命測量系統(tǒng)，用于手動操作表征不同制備階段的各種不同硅樣品?？蛇x的手動操作z軸用于厚度多達(dá)156毫米的樣品。標(biāo)準(zhǔn)軟件可輸出可視化的測量結(jié)果。
更新時間:2026-01-13
薄膜反射和透射的在線監(jiān)測系統(tǒng)
薄膜反射和透射的在線監(jiān)測系統(tǒng) rt inline 反射率、透射率和膜厚的高速在線測量是rt inline的設(shè)計特點(diǎn)。傳感器頭陣列掃描薄膜在大型玻璃基板上的反射和/或透射，作為內(nèi)部參考測量。利用ftpadv expert軟件可以方便地進(jìn)行層沉積過程的在線監(jiān)測。軟件接口可用于與主機(jī)的數(shù)據(jù)通信。
更新時間:2026-01-13
ALD實(shí)時監(jiān)測儀
sentech ald實(shí)時監(jiān)測儀是一種新型的光學(xué)診斷工具，是心靈超高分辨率的單一ald循環(huán)。在不破壞真空的條件下分析薄膜特性(生長速率，厚度，折射率)，在短時間內(nèi)開發(fā)新工藝、實(shí)時研究ald循環(huán)中的反應(yīng)機(jī)理是sentech ald實(shí)時監(jiān)測儀的主要應(yīng)用。
更新時間:2026-01-13
德國Optosol 涂層吸收率發(fā)射率檢測儀
德國optosol r1 涂層吸收率發(fā)射率檢測儀，用于測量管狀或平面太陽能吸收涂層的定向熱發(fā)射度，其基礎(chǔ)是測量來自擴(kuò)展熱源的紅外輻射的反射率操作溫度:70 - 90°c
更新時間:2026-01-13
德Optosol太陽能吸收率發(fā)射率檢測儀
德optosol-k3 太陽能吸收率發(fā)射率檢測儀，k3型發(fā)射率檢測儀由一個被加熱到70℃的發(fā)光體（作為熱輻射源）和三個對波長在8-14μm范圍的光線敏感的探測器組成。 來自發(fā)光體的輻射均勻分布在用作漫射輻射源的積分球內(nèi)。檢測器以與樣品表面法線成12°的角度安裝。被測量的是由樣品反射回來的輻射。
更新時間:2026-01-13
德國Optosol 太陽能平板集熱器膜層吸收與發(fā)射率快速測量儀
optosol absorber control k1 太陽能平板集熱器膜層吸收與發(fā)射率快速測量儀，
更新時間:2026-01-13
美國OAI標(biāo)準(zhǔn)太陽能模擬器
trisol aaa美國oai標(biāo)準(zhǔn)太陽能模擬器，低成本，標(biāo)準(zhǔn)太陽模擬器提供高度準(zhǔn)直，均勻的光，幾乎任何材料或產(chǎn)品暴露在陽光下長時間或短時間的基本測試。根據(jù)配置，這些太陽能模擬器的輸出功率為350w-5,000w。
更新時間:2026-01-13
美國OAI太陽能模擬器
tss-52,tss-100,tss-156,tss-208,tss-300美國oai太陽能模擬器，這些模擬器,取決于配置、輸出額定350 w -5000 w。oai 3 a太陽模擬器可以提供一個范圍的空氣質(zhì)量過濾器復(fù)制太陽能模擬太陽的光譜。目的探明oai透鏡和鏡像技術(shù)可以使一個廣泛的接觸區(qū)域。
更新時間:2026-01-13
日本RION液體光學(xué)顆粒度儀
日本rion液體光學(xué)顆粒度儀ks-41b，可檢測光阻產(chǎn)品、sog 等產(chǎn)品中 0.1um 的顆粒。
更新時間:2026-01-13
日本RION液體光學(xué)顆粒度儀
日本rion液體光學(xué)顆粒度儀ks-19f,寬廣的測試范圍，可測試 0.03~0.13um 之間的顆粒只需要小小的樣品取樣量就可以得到高效率高精準(zhǔn)的顆粒數(shù)據(jù)。
更新時間:2026-01-13
美AZ太陽能吸收率發(fā)射率測量儀
美az 總輻射度/太陽能吸收率(tesa)便攜式反射計 tesa 2000，根據(jù)astm e408測定熱發(fā)射率和空氣質(zhì)量為零時的太陽吸收率(空間應(yīng)用)。它緊湊，輕巧，堅(jiān)固耐用，符合人體工程學(xué)設(shè)計，便于在野外或?qū)嶒?yàn)室中使用。
更新時間:2026-01-13
日本RION氣體粒子計數(shù)器
日本rion氣體粒子計數(shù)器：kl-28b/28bf( 光散射法）,粒徑范圍（2個通道）：≥0.2μm， ≥0.5μm, 大粒子數(shù)濃度：1 200 顆/l （誤差值低于5%）
更新時間:2026-01-13
日本RION 液體光學(xué)顆粒度儀
日本rion 液體光學(xué)顆粒度儀：ks-16/16f ( 光散射法）, 大粒子數(shù)濃度：1 200 顆/l （誤差值低于5%）, 粒徑范圍（5個通道）：≥0.1μm， ≥0.15μm ， ≥0.2μm ， ≥0.3μm, ≥0.5μm
更新時間:2026-01-13
日本RION 液體光學(xué)顆粒度儀
日本rion 液體光學(xué)顆粒度儀：ks-17b ( 光散射法）,純水用，大粒子數(shù)濃度：100 000 顆/ml （誤差值低于5%），粒徑范圍（2個通道）：≥0.05μm， ≥0.1μm （4通道需工廠定制）
更新時間:2026-01-13
日本理音RION液體光學(xué)顆粒度儀
日本理音rion液體光學(xué)顆粒度儀ks-19f，寬廣的測試范圍，可測試 0.03~0.13um 之間的顆粒只需要小小的樣品取樣量就可以得到高效率高精準(zhǔn)的顆粒數(shù)據(jù)。
更新時間:2026-01-13
日本RION粒子計數(shù)器
日本rion粒子計數(shù)器kc-24 ( 光散射法）,液體粒子計數(shù)器，可檢測從純水到氫氟酸各種各樣的液體?？蓽y 0.1um 空氣顆粒度儀kc-24
更新時間:2026-01-13
日本RION液體光學(xué)顆粒度儀
日本rion液體光學(xué)顆粒度儀ks-41a ( 光阻用），可檢測光阻產(chǎn)品、sog 等產(chǎn)品中 0.15um 的顆粒。粒徑范圍（4個通道，出廠默認(rèn)）：≥0.15μm， ≥0.2μm ， ≥0.3μm ， ≥0.5μm
更新時間:2026-01-13
德國NETZSCH 閃射法導(dǎo)熱儀
lfa 467 hyperflash 閃射法導(dǎo)熱儀，自由選擇測試氣氛，優(yōu)化結(jié)構(gòu)設(shè)置與閃射光源，16位自動進(jìn)樣器，高的測量效率，寬廣的溫度范圍，靈活配備冷卻系統(tǒng)，設(shè)計獨(dú)特，性能優(yōu)異，配備氙燈光源的，高溫測試系統(tǒng)，寬廣的溫度范圍，真空密閉爐體，確保氣氛純凈，防止氧化，內(nèi)置微型管式爐，更高的測量效率，高數(shù)據(jù)采集速率- 用于薄膜與高導(dǎo)熱材料的解決方案
更新時間:2026-01-13
OAI UV METER
oai is a world leader in uv liight & energy measurement instrumentation used for reliable accurate calibrated control of the hotolithography processes in the semiconductor
更新時間:2026-01-13
日本理學(xué)X射線衍射儀
日本理學(xué)x射線衍射儀 tfxrd-300/200， 適用于near-fab application的無損方式xrd·mapping tool有多種光學(xué)元件可選的高精度測角儀，用于氮化鎵（gan)質(zhì)量管理，可對應(yīng)大規(guī)格晶圓的x射線衍射分析（xrd)系統(tǒng)
更新時間:2026-01-13
日本理學(xué)X射線衍射儀
日本理學(xué)x射線衍射儀 tfxrd-300/200， 適用于near-fab application的無損方式xrd·mapping tool有多種光學(xué)元件可選的高精度測角儀，用于氮化鎵（gan)質(zhì)量管理，可對應(yīng)大規(guī)格晶圓的x射線衍射分析（xrd)系統(tǒng)
更新時間:2026-01-13
德國ThetaMetrisis FR-Mini 膜厚測量儀
fr-mini 是一款緊湊型裝置，專為大學(xué)教育和研究實(shí)驗(yàn)室設(shè)計，用于快速、準(zhǔn)確和無損地表征各種不同的涂層。使用 fr-mini，用戶還可以在較寬的光譜范圍內(nèi)輕松進(jìn)行反射率和/或透射率測量。
更新時間:2026-01-13
德國ThetaMetrisis FR-Pro 膜厚測量儀
fr-pro 膜厚測量儀 用于表征1nm-3mm厚度范圍內(nèi)的 涂層的模塊化和可擴(kuò)展平臺。
更新時間:2026-01-13
德國TheMetrisis FR-Scanner自動化超高速薄膜厚度測繪
fr-scanner 是一款緊湊的臺式測量工具，全自動測繪涂層的厚度，基底適用于晶圓，掩膜版及其它材料。fr-scanner 可以快速和準(zhǔn)確地測量薄膜特性，比如厚度，折射系數(shù)，均勻性，色度等，真空吸盤可應(yīng)用于任何直徑或其它形狀的樣品。
更新時間:2026-01-13
德國EMO 紅外觀察鏡/紅外夜視儀
德國emo公司的86600和86910紅外觀察儀選用與7215同款顯像管6914，具有較好的分辨率和靈敏度。是一個高性能，手持式近紅激光外觀察儀。可用于紅外激光光路調(diào)節(jié)、激光器組裝精密小孔對準(zhǔn)、熒光觀察等。
更新時間:2026-01-12
意大利Dynamic Optics自適應(yīng)透鏡Dynamic Optics
dynamic optics以自適應(yīng)光學(xué)技術(shù)的領(lǐng)導(dǎo)者為企業(yè)發(fā)展目標(biāo)。在成像和激光處理中，要求對光學(xué)系統(tǒng)中使用的光學(xué)器件進(jìn)行可調(diào)諧調(diào)制----離焦調(diào)整、像差校正、光整形。dynamic optics可變形光學(xué)元件和波前傳感測量為各種應(yīng)用提供了創(chuàng)新解決方案?？梢蕴峁┆?dú)特的透射波前調(diào)制器、超高反射率可變形反射鏡和波前傳感測量的解決方案。
更新時間:2026-01-12
意大利Dynamic Optics高速可變形鏡頭
快速對焦鏡頭是一種調(diào)焦模塊，可安裝在固定焦距鏡頭前，以快速改變焦距，使用戶能夠比使用傳統(tǒng)機(jī)械移動鏡頭更快的重新聚焦鏡頭。其內(nèi)置驅(qū)動器專門用于精確控制壓電元件。該庫包括自動聚焦算法和校準(zhǔn)工具，幫助用戶將ao模塊集成到其產(chǎn)品或應(yīng)用程序中。
更新時間:2026-01-12
Fluence Blueback: 基于SPIDER的飛秒激光超短脈沖測量儀
fluence blueback:基于spider的飛秒激光超短脈沖測量儀是一款實(shí)時超短激光脈沖測量儀，為超快振蕩器和放大器提供高分辨率測量。通過使用fluence blueback，用戶可以實(shí)時觀察脈沖的變化，以此獲得超短脈沖特性的準(zhǔn)確信息。
更新時間:2026-01-12
MS-ROC多次自相關(guān)儀
ms-roc（multi-shot row optical autocorrelator）使用二階掃描自相關(guān)實(shí)現(xiàn)脈沖寬度測量。它基于邁克爾遜干涉儀和二次諧波生成（shg 自相關(guān)）。不同的型號允許分析低至 4 fs 的超短脈沖和 80 ps 的長脈沖，即使對于 pj 和 nj 范圍內(nèi)的低脈沖能量也是如此。高達(dá) 130ps/s 的高掃描速度是實(shí)時測量的理想選擇。
更新時間:2026-01-12
MIKS系列脈沖壓縮器
n2-photonics提供的miks系列脈沖壓縮器，可以光譜展寬和時間壓縮您的脈沖。輸出的脈沖寬度取決于輸入的脈沖寬度。特點(diǎn)：全天候穩(wěn)定運(yùn)行;輕松與現(xiàn)有激光系統(tǒng)集成;無有源光學(xué)元件;無機(jī)械移動部件;無需維護(hù)、可在惡劣環(huán)境中運(yùn)行
更新時間:2026-01-12
經(jīng)濟(jì)型FROG超短脈沖測量儀GRENOUILLE
美國swamp optics現(xiàn)在提供其首款經(jīng)濟(jì)型grenouille：8-50-eco，幾乎具有標(biāo)準(zhǔn)款8-50-usb的所有功能。 8-50-eco與與標(biāo)準(zhǔn)款構(gòu)造基本相同，具有基本相同的光學(xué)元件。當(dāng)預(yù)算不足以購買標(biāo)準(zhǔn)frog脈沖測量設(shè)備時，8-50-eco可作為最佳經(jīng)濟(jì)選擇。8-50-eco經(jīng)濟(jì)型frog超短脈沖測量儀grenouille
更新時間:2026-01-12
單次飛秒脈沖測量儀
單次飛秒脈沖測量儀fast frog產(chǎn)品線提供基于二次諧波產(chǎn)生可靠和緊湊的單鏡頭frog。波前分割技術(shù)和小型成像光譜儀等關(guān)鍵設(shè)計特點(diǎn)使得fast frog非常易于使用，并提供了高水平的準(zhǔn)確性。飛秒脈沖測量儀fast frog可用于覆蓋廣泛的光譜范圍（480-2100nm）和廣泛的脈沖寬度范圍（ 5fs-80 ps）。
更新時間:2026-01-12
紅外超短脈沖測量儀FROG飛秒激光測量Swampoptics
美國swamp optics公司提供最具創(chuàng)新和最高性價比的frog設(shè)備，專用于測量超短激光脈沖。紅外grenouille可通信波長范圍內(nèi)工作，覆蓋900-1620nm，支持光纖耦合輸入，從而進(jìn)一步方便使用。紅外超短脈沖測量儀frog飛秒激光測量swampoptics
更新時間:2026-01-12
太赫茲近場探針
thz，太赫茲，近場探針，太赫探測，thz near-field optical probe，太赫茲近場探測，太赫茲近場探針，thz近場探測，thz探針，thz近場探針
更新時間:2026-01-12
磁光克爾效應(yīng)磁滯回線測量儀 磁滯回線測量儀
 從當(dāng)下主流的機(jī)械硬盤，到未來的磁性存儲單元，磁滯回線測量都是評估薄膜性質(zhì)的重要手段。 相較于電學(xué)霍爾測量和震動磁強(qiáng)計，光磁克爾效應(yīng)具有測量速度快，精度高，非侵入，且不需要對樣品進(jìn)行加工或切
更新時間:2026-01-12
低噪聲高速近紅外InGaAs相機(jī)
snake 是新一代的vga格式的ingaas近紅外相機(jī)，具有即插即用能力。工作在900-1700nm的swir光譜范圍，該紅外相機(jī)具有出色的性能，在靈敏度，噪聲，暗電流和操作方便性都具有非常高的優(yōu)勢。該相機(jī)提供了oem版本，集成模塊化接口設(shè)計，易于集成于用戶的系統(tǒng)中，同時可提供數(shù)據(jù)處理能力?？蓱?yīng)用于高光譜儀器，激光束分析，半導(dǎo)體檢測，生物醫(yī)學(xué)研究和國防等。
更新時間:2026-01-12
微型高精度光譜儀
asp-75微型高精度光譜儀占地面積小，重量為300克。該設(shè)計的簡單性允許將寬光譜范圍和高分辨率與超過緊湊尺寸相結(jié)合。asp-75微型高精度光譜儀可用于各種空間要求苛刻的應(yīng)用，也可用于任何設(shè)備的oem集成。該裝置具有特殊的光纖輸入和光譜狹縫，光纖狹縫的大小由探測器調(diào)節(jié)。它允許測量自由空間或光纖信號而無需任何重新對準(zhǔn)。但是，由于光纖中信號調(diào)制和隨后的頻譜失真，不建議使用光纖測量飛秒激光的頻譜。
更新時間:2026-01-12
INT10-M邁克爾遜 PLX 單片干涉儀(中紅外 FTIR 光譜儀組件)
int10-m邁克爾遜 plx 單片干涉儀(中紅外 ftir 光譜儀組件)產(chǎn)品應(yīng)用中紅外光譜分析儀
更新時間:2026-01-12
BladeCam2-HR-1310 CMOS基礎(chǔ)型光斑分析儀相機(jī) 355-1350nm
bladecam2-hr-1310 cmos基礎(chǔ)型光斑分析儀相機(jī) 355-1350nm 產(chǎn)品應(yīng)用連續(xù)激光的光束分析激光和激光系統(tǒng)的現(xiàn)場測試光學(xué)組裝和儀器校準(zhǔn)光束漂移和記錄使用 m2du 平臺測量 m2
更新時間:2026-01-12
NIR100近紅外光譜儀
nir100近紅外光譜儀nir100紅外光譜儀具有高靈敏度和緊湊型設(shè)計 ，可在780-1700 nm光譜范圍內(nèi)與多種光源配合使用。其精密工程設(shè)計、無移 動部件以及非制冷線性ingaas傳感器的特點(diǎn) ，使其成為各種光譜應(yīng)用的理想選擇 ，且無需長期信號存儲。
更新時間:2026-01-12
Cobra-S 800 超高速光譜儀
cobra-s 800 超高速光譜儀產(chǎn)品應(yīng)用皮膚科眼前節(jié)成像亞表面材料檢查血管造影測振實(shí)時3d成像
更新時間:2026-01-12

最新產(chǎn)品

熱門儀器： 液相色譜儀 氣相色譜儀 原子熒光光譜儀 可見分光光度計 液質(zhì)聯(lián)用儀 壓力試驗(yàn)機(jī) 酸度計（PH計） 離心機(jī) 高速離心機(jī) 冷凍離心機(jī) 生物顯微鏡 金相顯微鏡 標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì) 生物試劑